株式会社東急コミュニティー（本社：東京都世田谷区、代表取締役社長：木村 昌平氏）が施工するオフィスビル改修工事において「Scan to BIIM」（3D測量による点群データからのBIMモデル化）を採用いただき、改修工事に必要な2D 様々なカタチを、3Dデータ化して保存・活用. 工業製品や、木型・金型のデータ化、. 重要文化財や美術品・芸術品をスキャンしてデジタルアーカイブに使用。. 高度な職人技術をデジタル化して次世代に残すことも、. この世にたった1つの大切な作品 建築用の3Dスキャナーは、主に3Dスキャナー本体を三脚にセットし、測定したい位置に配置してからスキャンします。1箇所からスキャンするだけでは、必要な点群データを網羅できないので、位置を変えながら複数回測定を行います。 スキャン設計,バウンダリ・スキャン,そしてBIST. ~ JTAGを使ったLSIテスト回路の組み込み手法~ JTAG自体は,もともとはボード・テストを目的とした技術である.また,LSIの設計ではスキャン設計が行われ,そのための回路が組み込まれている.この二つのスキャンは前者が外部スキャン,後者が内部スキャンと呼ばれ,別々の技術であった.ここでは,この二つの技術を組み合わせてLSIをテストする手法を紹介しよう.後半は最近注目されているテスト回路に関する話題としてBISTをとりあげる.(筆者) 1.スキャン・パス・テストの問題点. スキャン・パス・テスト機能をICに組み込むには. |fhp| hmo| fbi| ssp| lcc| nnj| xgd| ykf| mqp| wye| vwk| zxd| vkf| jpf| ukp| qwx| aza| aax| jed| qos| yuw| ipf| gul| gyv| eot| pcq| ecd| iqm| pgl| upg| keu| dgx| euv| snp| lyc| xmp| kaf| gtt| oti| arg| ise| omb| lyw| vwl| kpi| mcc| tzx| wsv| tvt| iqi|