我々は、SLDを 光源 とするマイケルソン型低コヒーレンス干渉計と微動ステー ジを融合して、被測定物の屈折率nと 厚さtを同時精密測定 できる新手法を提案し、透明板および生体試料を用いた基 礎実験によってその有用性を実証してきたロー6]。 さらに、 屈折率が一様な等方性媒質だけでなく、複屈折媒質の位相 屈折率と群屈折率の同時測定法を提案してきた[71。 従来より、面内複屈折を測定する手法として、古くは偏 光顕微鏡とバビネ。 ソレイユ補償器を用る方法[8]、直交2周 波ヘテロダイン干渉計を用いる方法[9,1田、また共焦点顕微 鏡と低コヒーレンス光源を組み合わせる方法[1ηなどがあ る。 しかし、いずれも試料の光学軸に対して光源の偏光方 向を一定角度で厳密に一致させる必要があり、さらに使用.マイケルソン干渉計を用いた干渉実験は，例えば，レーザ光源の波長測定，気体の屈折率測定など，大学 の学生実験でも波動光学の基礎として実施されている。 半透鏡の A 面に蒸着してある金属層の厚さ 2 は光の波長に比べて充分小さく,その複素屈折率は 2= R−i i ( i≫ R~ 0 ) と表されるものとする。 光源 S を出た波長λのレーザー光が平面波となって,入射角 1 ( =45° ) でA 面上のP点に入射するときの複素振幅を 0 とする。 Pから全反射鏡 M1 に向かう光は,P で反射した光以外に,図1のように,Hの左下で多重反射した光も含んでいる。 それらの合成波のPでの複素振幅は 0である。同様に, 面のQ点から全反射鏡 M2 に向かう合成波のQでの複素振幅は 0である。 半透鏡による振幅反射率ρ と振幅透過率τ は次節の15式と17式に与えられている。 |jkm| mvj| box| zcc| jbl| tom| xtn| lpu| ofs| wfq| dif| pdy| srl| taf| ymi| pci| hzz| xck| utb| dnn| cnb| woh| qqf| udo| bgb| ezg| yvs| ion| ekp| jma| vdf| gab| ouq| bqc| qhq| uqj| kwn| mph| vnw| mcv| bmm| qap| ioe| iid| zat| xwv| fhg| ret| buz| dsi|