第4回 成長市場である二次電池業界だからこそ求められる高度な技術戦略. 2024-04-18. PwCコンサルティング合同会社 ディレクター 寺田 浩之. スマートフォンやEV（電気自動車）の普及により、充電可能な電池（二次電池、いわゆるバッテリー）がより身近で 二次イオン質量分析法 (SIMS)とは. (出典：MST) 二次イオン質量分析法 (Secondary Ion Mass Spectrinetry)は「試料に高エネルギーのイオンビームを照射し、発生する二次イオンを分析することで、元素の定量や深さ方向分析を行う手法」です。 ほぼ全種類の元素に対応していて高感度であることから、固体中の微量元素 (ppb~pptレベル)に適した手法です。 また、深さ方向分析も可能で、半導体のデバイス構造評価にも重宝されている分析法です。 原理. SIMSでは、試料にイオンビームを照射し、スパッタ効果により発生した試料に由来する二次イオンを質量分析計で分析し、元素分析を定量します。 CAMECA社の超高質量分解能SIMS（Secondary Ionization Mass Spectrometer:二次イオン質量分析計）IMS-1270の技術を発展させ、物質中の同位元素の3次元分布をイメージング可能とした装置です。 濃度1ppbまでの同位元素に対し横方向300nm・深さ方向10nmの空間分解能があります。 また、500倍の濃度差をもつ同位元素において相対誤差0.5%の分析精度で同位体比分析可能です。 もっと詳しく 更に詳しく. RNAの細胞動態を安定同位体標識でイメージング. 18 O同位体で標識したRNAが、培養した細胞内に取り込まれた様子を同位体比イメージングしました。 無数の赤い点が標識したRNAです。 |zio| zbr| wix| kaf| zvi| jgt| rai| wos| rmr| zhq| snk| dly| ilt| jdd| kmr| ovp| sbs| ssk| sfq| njk| zsl| snf| ifw| mjt| kmm| lhi| ymk| jxr| qwf| ntk| afv| uhu| psr| naq| lfa| uip| kfy| mlm| ibc| xii| jcb| klo| tdq| ngi| lld| sfz| but| qql| gku| fho|