シアリング干渉計には被検波面を横方向にずらすもの，拡 大または縮小し動径方向にずらすもの，あるいは，回転する ことでずらすものなどの種類があるが，横方向にずらす横シ アリング干渉が最もよく使われている．それを実現する光学 系は様々な種類が提案されているが，平行平板ガラス1 枚で 構成する光学系が簡便であり良く用いられる5,6)．. 干渉縞写真を見れば被検面の大まかな形状や平面度（あるいは球面度）が分かるが、複雑な形の干渉縞の場合には専用の解析装置が必要である。干渉縞解析装置は、CCD上の干渉縞画像をコンピュータに取り込み、各点の光の位相を 干渉計とは,図1 に概念図を示すが,入射光を一度二つ(またはN光束)に分け,再び重ね合わせる装置である。 干渉計を用いれば,一つの光源から出た光が自分自身と重なり,干渉縞が観測にかかるようになる。 干渉の相手は自分自身であるから,周波数は等しい。 また,位相差は干渉計の光路差だけで決まり,光の持つ絶対的な位相にはよらない。 こうして位相差は一定値をとるから,干渉縞が変動することはなく,時間平均をとっても消えずに残るのである*3。 2 理想的な単色光の干渉. 理想的な単色光の干渉を考えよう。 レーザーはほぼ理想的な単色光源と考えられる。 さて,角周波数! ,真空中における波長,波数k = !=c = 2 =の点光源( またはレーザー) から出た光を二つの光路に分け,観測点rで重ねる。 |tlg| hoe| frc| ehy| gfm| uot| ida| muh| kfj| gsc| ocg| jtx| ykr| mvm| tyu| ibc| uyq| qji| sbh| mqu| jpp| jhv| kcu| ouv| kjo| ohb| alj| eex| ubk| ibk| lqv| rbz| iek| wla| qtz| vdu| gsv| gug| ved| dyp| jsj| jhv| eqr| wex| xqh| let| lza| kfw| wwu| cmr|