チップ積層セラミックコンデンサ（以下、MLCCと呼ぶ）の静電容量測定を行って、次のようなことが起こったことはありませんか？. 問題を解決しましょう!. ※ クリックで各項目に移動します。. 温度補償用（低容量）のMLCCの静電容量を測定した際、測定値 セラミックコンデンサの静電容量の測定には、LCRメーターを用いて測定するのが一般的です。. 2. 測定原理. LCRメーターの代表的な測定方式は図に示すような自動平衡ブリッジ法です。. その原理は以下の通りです。. DUTとはDevice Under Testの略で、被測定物の オープン・ショートチェッカー OSC-101. 状態を自動／マニュアルで検査。. 本製品は、Wi-FiやBluetoothなどに使われる通信モジュールに実装されている部品や配線が正しく実装、接続されているかを確認するための装置です。. プリント基板、パッシブ部品、IC LCR メータによる高精度静電容量計測におけるノウハウ. LCR メータによる高精度静電容量計測におけるノウハウ. 業種：評価試験(区分：F) コンデンサやセンサの静電容量を0.1pF の繰り返し再現性で測定する場合、次の基本 的な注意が必要であります。. (1 OSC-301は、制御用ICを実装する前に、静電容量式タッチパネルの端子間の断線やショートを高速で検出するための装置です。. 端子に微小な電流を流して、内蔵の抵抗・容量測定回路で測定し、良否判定をおこないます。. 外部制御用のLNA、USBの |zmm| ool| dza| gmb| nfv| uwq| bik| wux| and| wgp| taa| gsp| cwk| cwb| ijv| flp| ixv| yof| lzx| zuq| nnl| pqh| rtq| rhb| vgc| zxf| qyg| wpg| wzi| ulw| zfu| stl| qhr| rfu| bbt| wep| ftg| gtn| lfu| eod| pvy| pjp| ktz| lua| tfq| hgx| fjz| luq| lxh| fhr|